AMT 2.0 - Monitoring Tool for Extended STL Specifications

  • Olivier Lebeltel (Autor)
  • Oded Maler (Autor)
  • Nickovic, D. (Vortragender)

    Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / VorlesungPräsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop

    Zeitraum21 Juli 201722 Juli 2017
    EreignistitelFAC'17
    VeranstaltungstypSonstiges
    BekanntheitsgradInternational

    Research Field

    • Nicht definiert