Publikationen
- 1 Posterpräsentation ohne Eintrag in Tagungsband
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Optical inspection approach for in-line industrial monitoring of nano and micrometric layers quality in thin film photovoltaics technologies
Titel in Übersetzung :Optisches Inspektionsverfahren zur Inline-Überwachung der Qualität von nano- und mikrometrischen Schichten in Dünnschicht-Photovoltaik-Technologien Publikation: Posterpräsentation ohne Beitrag in Tagungsband › Posterpräsentation ohne Eintrag in Tagungsband › Begutachtung
Aktivitäten
- 1 Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop
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Optical inspection approach for accelerated research of kesterite thin film photovoltaic devices
Robert-Fonoll , R. (Vortragender), Rotaru, V. (Vortragender), Gari, J. (Autor), Andrade-Arvizu, J. (Autor), Ginner, L. (Vortragender), Motschi, A. (Vortragender), Vidal-Fuentes, P. (Vortragender), Perez-Rodriguez, A. (Autor), Izquierdo-Roca, V. (Vortragender) & Guc, M. (Vortragender)
27 Juni 2024Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / Vorlesung › Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop
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