Christian Kapeller

Fast Inline photometric stereo using coherent illumination and multi-TDI speckle reduction
Kapeller, C., Ginner, L., Bodenstorfer, E. & Traxler, L. (Vortragende:r), 2022, Proc. SPIE 11983, High-Power Diode Laser Technology XX. S. 231-243 13 S.
Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Beitrag in Tagungsband mit Posterpräsentation › Begutachtung
Industry-fit AI Usage for Crack Detection in Ground Steel
Soukup, D., Kapeller, C., Raml, B. & Ruisz, J., 2022, in: ELECTRONICS. S. 1-13 13 S.
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Photometric stereo-based high-speed inline battery electrode inspection
Kapeller, C. & Bodenstorfer, E., 2021, in: tm- Technisches Messen. 88, S. 423-432 10 S.
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Inline battery foil inspection using strobed Photometric Stereo
Kapeller, C. (Vortragende:r), Blaschitz, B. & Bodenstorfer, E., 2020, Forum Bildverarbeitung 2020. Society for Imaging Science and Technology, 13 S.
Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Vortrag mit Beitrag in Tagungsband

Open Access
Modulares Ringlicht für photometrische Analyse von Mikrostrukturoberflächen
Haider, A. (Vortragende:r), Traxler, L., Brosch, N. & Kapeller, C., 2020, Forum Bildverarbeitung 2020. Society for Imaging Science and Technology, S. 39-48 10 S.
Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Vortrag mit Beitrag in Tagungsband

Open Access

Smart 3D Surface Inspection with xposure:photometry
Bodenstorfer, E. (Vortragender), Schurek, P. (Autor), Hasani, Y. (Autor) & Kapeller, C. (Autor)
4 Okt. 2022 → 5 Okt. 2022
Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / Vorlesung › Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop
Battery foil inspection with inline-photometry and AI
Schneider, P. (Vortragender), Kapeller, C. (Autor) & Bodenstorfer, E. (Autor)
4 Okt. 2022 → 6 Okt. 2022
Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / Vorlesung › Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop
Responsible Introduction of AI in Industrial Inspection Processes
Kapeller, C. (Vortragender), Soukup, D. (Autor) & Ruisz, J. (Autor)
4 Okt. 2022 → 6 Okt. 2022
Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / Vorlesung › Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop
xposure: photometry- fast inline 3D surface scanner
Bodenstorfer, E. (Vortragender), Schurek, P. (Autor), Hasani, Y. (Autor) & Kapeller, C. (Autor)
5 Okt. 2021 → 7 Okt. 2021
Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / Vorlesung › Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop
Torwards full-area defect inspection in battery electrodes
Kapeller, C. (Vortragender)
5 Okt. 2021 → 7 Okt. 2021
Aktivität: Vortrag ohne Tagungsband / Vorlesung › Präsentation auf einer wissenschaftlichen Konferenz / Workshop

Inline microscopic 3D shape reconstruction
Antensteiner, D. (Empfänger/-in), Kapeller, C. (Empfänger/-in), Mecca, R. (Empfänger/-in) & Traxler, L. (Empfänger/-in), 17 Okt. 2023
Auszeichnung: Best paper award für Beitrag in einer Fachzeitschrift/ auf einer Konferenz

Publikationen