A dynamic model of power metal-oxide-semiconductor field-effect transistor half-bridges for the fast simulation of switching induced electromagnetic emissions

Dominik Büchl, Wolfgang Kemmetmüller, Tobias Glück, B. Deutschmann, Andreas Kugi

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)242-260
Seitenumfang19
FachzeitschriftMathematical and Computer Modelling of Dynamical Systems
Volume25
Issue3
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019

Research Field

  • Complex Dynamical Systems

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