An Abstract on Trustable Systems Validation, Verification and Certification - Challenges through Resilience Requirements. Key Note zur Session "Embedded Systems - Dependability: Validation, Verification, Certification", Abstract und Geleitwort als Session Chair

Erwin Schoitsch (Vortragende:r), N. Suri

Publikation: Beitrag in Buch oder TagungsbandVortrag mit Beitrag in Tagungsband

OriginalspracheEnglisch
TitelTagungsband zur Informationstagung Mikroelektronik 08, ÖVE Schriftenreihe Nr. 50
Seiten298-299
Seitenumfang2
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungInformationstagung Mikroelektronik 08 -
Dauer: 15 Okt. 200816 Okt. 2008

Konferenz

KonferenzInformationstagung Mikroelektronik 08
Zeitraum15/10/0816/10/08

Research Field

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