Analyse von Simulationen und Nahfeldmessergebnissen an ICs und PCBs zur Störfeldstärkenabschätzung

Michael Vlasich

Publikation: Abschlussarbeit › Masterarbeit

OriginalspracheDeutsch
Gradverleihende Hochschule
  • University of Applied Sciences Technikum Wien
Betreuer/-in / Berater/-in
  • Lamedschwandner, Kurt, Betreuer:in
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007

Research Field

  • Biosensor Technologies

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