Correlative Microscopy and Spectroscopy of Perovskite Thin Films: Degradation Analysis

Titel in Übersetzung: MIKROSKOPIE UND SPEKTROSKOPIE VON PEROWSKIT-DÜNNSCHICHTEN: DEGRADATIONSANALYSE

V. Paraskeva, Rita Ebner, E. Peraticos, S. Pechmann, Tommaso Fontanot, Aranzazu Aguirre, T. Aernouts, A. Krishna, Maria Hadjipanayi, M. Sergides, A. Othonos, S. Christiansen, George E. Georghiou

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Abstract

Perowskit-Materialien haben aufgrund ihrer wünschenswerten photoelektrischen Eigenschaften hervorragende Aussichten für Halbleiteranwendungen. Die Morphologie und die Struktur der Lichtabsorptionsschicht sind von entscheidender Bedeutung für die Leistung des Geräts, und ihre Veränderungen während der Degradationsphase sind für das Verständnis der Degradationswege von größter Bedeutung. In dieser Arbeit wurden unberührte Perowskit-Dünnschichten mit und ohne FACl-Zusätze in der aktiven Perowskit-Schicht mit Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Energiedispersionsspektroskopie (EDX) charakterisiert, um Veränderungen der Perowskit-Korngröße, der Korngrenzen und der Stromdichten zu ermitteln. Darüber hinaus wurden Femtosekunden-Transmissionsmessungen eingesetzt, um Veränderungen in der Ladungsträgerrelaxationsdynamik in eingekapselten Perowskit-Dünnschichten vor und nach der Freibewitterung festzustellen.
Titel in ÜbersetzungMIKROSKOPIE UND SPEKTROSKOPIE VON PEROWSKIT-DÜNNSCHICHTEN: DEGRADATIONSANALYSE
OriginalspracheEnglisch
TitelEU PVSEC Proceedings
Seitenumfang5
ISBN (elektronisch)2196-100X
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 18 Sept. 2023
Veranstaltung40th EU PVSEC 2023 - Lisbon Congress Center, Lisbon, Portugal
Dauer: 18 Sept. 202322 Sept. 2023

Konferenz

Konferenz40th EU PVSEC 2023
Land/GebietPortugal
StadtLisbon
Zeitraum18/09/2322/09/23

Research Field

  • Energy Conversion and Hydrogen

Schlagwörter

  • Perovskites
  • Characterization
  • Aging
  • Spectroscopy
  • Microscopy

Fingerprint

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