Functional Safety: The new standards of IEC 61508 FDIS Ed. 2 and ISO/DIS 26262 (Automotive ) - comparison and new features

Erwin Schoitsch (Vortragende:r)

Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Vortrag mit Beitrag in Tagungsband › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Titel	Mikroelektronik Informationstagung 2010
Seiten	273-283
Seitenumfang	11
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2010
Veranstaltung	Mikroelektronik Informationstagung 2010 - Dauer: 7 Apr. 2010 → 8 Apr. 2010

Konferenz	Mikroelektronik Informationstagung 2010
Zeitraum	7/04/10 → 8/04/10

Research Field

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TY - GEN

T1 - Functional Safety: The new standards of IEC 61508 FDIS Ed. 2 and ISO/DIS 26262 (Automotive ) - comparison and new features

A2 - Schoitsch, Erwin

PY - 2010

Y1 - 2010

M3 - Conference Proceedings with Oral Presentation

SN - 978-3-85133-055-7

SP - 273

EP - 283

BT - Mikroelektronik Informationstagung 2010

T2 - Mikroelektronik Informationstagung 2010

Y2 - 7 April 2010 through 8 April 2010

ER -