Geometry Unit for Analysis of Warped Image Features on Programmable Chips

Johannes Fürtler, Konrad Mayer, Christian Eckel, Jörg Brodersen, Herbert Nachtnebel, Gerhard Cadek

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seitenumfang8
FachzeitschriftEURASIP Journal on Embedded Systems
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007

Research Field

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