Model-based, Mutation-driven Test-case Generation Via Heuristic-guided Branching Search

Andreas Fellner, Willibald Krenn, Rupert Schlick, Thorsten Tarrach, Georg Weissenbacher

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seitenumfang1
FachzeitschriftACM Transactions on Embedded Computing Systems
Volume1
Issue18
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019

Research Field

  • Dependable Systems Engineering

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