Secondary ion emission from binary and ternary amorphous alloys

H. Gnaser, M. Riedel, J. Marton, Friedrich Rüdenauer

    Publikation: Beitrag in Buch oder TagungsbandVortrag mit Beitrag in Tagungsband

    OriginalspracheEnglisch
    Titel3. international conference on ion mass spectrometry (SIMS III).
    Seiten282-287
    Seitenumfang6
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 1982
    Veranstaltung3. international conference on ion mass spectrometry (SIMS III). -
    Dauer: 1 Jan. 1982 → …

    Konferenz

    Konferenz3. international conference on ion mass spectrometry (SIMS III).
    Zeitraum1/01/82 → …

    Research Field

    • Nicht definiert

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    • FZS-000PHP

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