Shedding light on the dark corners of MOF thin films: growth and structural stability of ZIF-8 layers probed by Optical Waveguide Spectroscopy

Juan A. Allegretto, Jakub Dostalek, Matias Rafti, Bernhard Menges, Omar Azzaroni, Wolfgang Knoll

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

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