| Originalsprache | Deutsch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 115-124 |
| Seitenumfang | 10 |
| Fachzeitschrift | Ultramicroscopy(1988) |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1988 |
Research Field
- Nicht definiert
Schlagwörter
- FZS-000IPP
Sputter redeposition as a limit to spatially 3-dimensional SIMS microanalysis
Friedrich Rüdenauer
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