Systematic simulations to determine the impact of the sensor cross-section of the measuring probe on the exposure assessment in highly localized magnetic fields

Pia Schneeweiß; Gernot Schmid

Systematic simulations to determine the impact of the sensor cross-section of the measuring probe on the exposure assessment in highly localized magnetic fields

Pia Schneeweiß (Autor:in und Vortragende:r), Gernot Schmid

EMC & Optics

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Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2023
Veranstaltung	BioEM 2023 - Oxford, Großbritannien/Vereinigtes Königreich Dauer: 18 Juni 2023 → 23 Juni 2023

Konferenz

Konferenz	BioEM 2023
Land/Gebiet	Großbritannien/Vereinigtes Königreich
Stadt	Oxford
Zeitraum	18/06/23 → 23/06/23

Research Field

Seibersdorf Labor

Diese Publikation zitieren

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Systematic simulations to determine the impact of the sensor cross-section of the measuring probe on the exposure assessment in highly localized magnetic fields. / Schneeweiß, Pia (Autor:in und Vortragende:r); Schmid, Gernot.
2023. Beitrag in BioEM 2023, Oxford, Großbritannien/Vereinigtes Königreich.

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