TEM Study on Diffusion Process of NiFe Schottky and MgO/NiFe Tunneling Diodes for Spin Injection in Silicon

S.L. Lee, T. Uhrmann, Theodoros Dimopoulos, J Fiddler, H. Brückl

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)2067
Seitenumfang1
FachzeitschriftIEEE Transactions on Magnetics
Volume46
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010

Research Field

  • Ehemaliges Research Field - Energy
  • Ehemaliges Research Field - Health and Bioresources

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