Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography

Christoph Schmidt; F. Altmann; Giorgio Cataldo Mutinati; E. Brunet; S. Steinhauer; A. Köck; M. Siegele; C. Gamauf; A. Nemecek; J. Teva; J. Kraft; J. Siegert; F Schrank; H. Kruschke

Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography

Christoph Schmidt (Vortragende:r), F. Altmann, Giorgio Cataldo Mutinati, E. Brunet, S. Steinhauer, A. Köck, M. Siegele, C. Gamauf, A. Nemecek, J. Teva, J. Kraft, J. Siegert, F Schrank, H. Kruschke

Molecular Diagnostics

Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Beitrag in Tagungsband mit Posterpräsentation › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Titel	ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis
Seiten	592-595
Seitenumfang	4
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2012
Veranstaltung	ISTFA 2012 - Dauer: 11 Nov. 2012 → 15 Nov. 2012

Konferenz

Konferenz	ISTFA 2012
Zeitraum	11/11/12 → 15/11/12

Research Field

Ehemaliges Research Field - Health and Bioresources

Diese Publikation zitieren

Schmidt, C., Altmann, F., Mutinati, G. C., Brunet, E., Steinhauer, S., Köck, A., Siegele, M., Gamauf, C., Nemecek, A., Teva, J., Kraft, J., Siegert, J., Schrank, F., & Kruschke, H. (2012). Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography. in ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis (S. 592-595)

@inbook{480ad6d09a5c4300a737df55043ce412,

title = "Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography",

author = "Christoph Schmidt and F. Altmann and Mutinati, {Giorgio Cataldo} and E. Brunet and S. Steinhauer and A. K{\"o}ck and M. Siegele and C. Gamauf and A. Nemecek and J. Teva and J. Kraft and J. Siegert and F Schrank and H. Kruschke",

year = "2012",

language = "English",

pages = "592--595",

booktitle = "ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis",

note = "ISTFA 2012 ; Conference date: 11-11-2012 Through 15-11-2012",

}

Schmidt, C, Altmann, F, Mutinati, GC, Brunet, E, Steinhauer, S, Köck, A, Siegele, M, Gamauf, C, Nemecek, A, Teva, J, Kraft, J, Siegert, J, Schrank, F & Kruschke, H 2012, Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography. in ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis. S. 592-595, ISTFA 2012, 11/11/12.

Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography. / Schmidt, Christoph (Vortragende:r); Altmann, F.; Mutinati, Giorgio Cataldo et al.
ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis. 2012. S. 592-595.

Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Beitrag in Tagungsband mit Posterpräsentation › Begutachtung

TY - CHAP

T1 - Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography

AU - Altmann, F.

AU - Mutinati, Giorgio Cataldo

AU - Brunet, E.

AU - Steinhauer, S.

AU - Köck, A.

AU - Siegele, M.

AU - Gamauf, C.

AU - Nemecek, A.

AU - Teva, J.

AU - Kraft, J.

AU - Siegert, J.

AU - Schrank, F

AU - Kruschke, H.

A2 - Schmidt, Christoph

PY - 2012

Y1 - 2012

M3 - Conference Proceedings with Poster Presentation

SP - 592

EP - 595

BT - ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis

T2 - ISTFA 2012

Y2 - 11 November 2012 through 15 November 2012

ER -