Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography

Christoph Schmidt; F. Altmann; Giorgio Cataldo Mutinati; E. Brunet; S. Steinhauer; A. Köck; M. Siegele; C. Gamauf; A. Nemecek; J. Teva; J. Kraft; J. Siegert; F Schrank; H. Kruschke

Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography

Christoph Schmidt (Vortragende:r), F. Altmann, Giorgio Cataldo Mutinati, E. Brunet, S. Steinhauer, A. Köck, M. Siegele, C. Gamauf, A. Nemecek, J. Teva, J. Kraft, J. Siegert, F Schrank, H. Kruschke

Molecular Diagnostics

Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Beitrag in Tagungsband mit Posterpräsentation › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Titel	ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis
Seiten	592-595
Seitenumfang	4
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2012
Veranstaltung	ISTFA 2012 - Dauer: 11 Nov. 2012 → 15 Nov. 2012

Konferenz

Konferenz	ISTFA 2012
Zeitraum	11/11/12 → 15/11/12

Research Field

Ehemaliges Research Field - Health and Bioresources

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Schmidt, C., Altmann, F., Mutinati, G. C., Brunet, E., Steinhauer, S., Köck, A., Siegele, M., Gamauf, C., Nemecek, A., Teva, J., Kraft, J., Siegert, J., Schrank, F., & Kruschke, H. (2012). Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography. in ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis (S. 592-595)

@inbook{480ad6d09a5c4300a737df55043ce412,

title = "Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography",

author = "Christoph Schmidt and F. Altmann and Mutinati, \{Giorgio Cataldo\} and E. Brunet and S. Steinhauer and A. K{\"o}ck and M. Siegele and C. Gamauf and A. Nemecek and J. Teva and J. Kraft and J. Siegert and F Schrank and H. Kruschke",

year = "2012",

language = "English",

pages = "592--595",

booktitle = "ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis",

note = "ISTFA 2012 ; Conference date: 11-11-2012 Through 15-11-2012",

}

Schmidt, C, Altmann, F, Mutinati, GC, Brunet, E, Steinhauer, S, Köck, A, Siegele, M, Gamauf, C, Nemecek, A, Teva, J, Kraft, J, Siegert, J, Schrank, F & Kruschke, H 2012, Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography. in ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis. S. 592-595, ISTFA 2012, 11/11/12.

Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography. / Schmidt, Christoph (Vortragende:r); Altmann, F.; Mutinati, Giorgio Cataldo et al.
ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis. 2012. S. 592-595.

Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Beitrag in Tagungsband mit Posterpräsentation › Begutachtung

TY - CHAP

T1 - Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-hot-plates Using IR Thermography

AU - Altmann, F.

AU - Mutinati, Giorgio Cataldo

AU - Brunet, E.

AU - Steinhauer, S.

AU - Köck, A.

AU - Siegele, M.

AU - Gamauf, C.

AU - Nemecek, A.

AU - Teva, J.

AU - Kraft, J.

AU - Siegert, J.

AU - Schrank, F

AU - Kruschke, H.

A2 - Schmidt, Christoph

PY - 2012

Y1 - 2012

M3 - Conference Proceedings with Poster Presentation

SP - 592

EP - 595

BT - ISTFA 2012: Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis

T2 - ISTFA 2012

Y2 - 11 November 2012 through 15 November 2012

ER -