Towards Generation of Efficient Tes Cases from UML/OCL Models for Complex Safety-Critical Systems

Wolfgang Herzner (Vortragende:r), Rupert Schlick, Harald Brandl, Willibald Krenn, Werner Schütz

Publikation: Beitrag in Buch oder Tagungsband › Vortrag mit Beitrag in Tagungsband › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Titel	Informationstagung Mikroelektronik 2010
Seiten	237-244
Seitenumfang	8
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2010
Veranstaltung	Mikroelektronik 2010 - Dauer: 7 Apr. 2010 → 8 Apr. 2010

Konferenz	Mikroelektronik 2010
Zeitraum	7/04/10 → 8/04/10

Research Field

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note = "Mikroelektronik 2010 ; Conference date: 07-04-2010 Through 08-04-2010",

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TY - GEN

T1 - Towards Generation of Efficient Tes Cases from UML/OCL Models for Complex Safety-Critical Systems

AU - Schlick, Rupert

AU - Brandl, Harald

AU - Krenn, Willibald

AU - Schütz, Werner

A2 - Herzner, Wolfgang

PY - 2010

Y1 - 2010

M3 - Conference Proceedings with Oral Presentation

SN - 978-3-85133-055-7

SP - 237

EP - 244

BT - Informationstagung Mikroelektronik 2010

T2 - Mikroelektronik 2010

Y2 - 7 April 2010 through 8 April 2010

ER -