Ultra-Fast 2K Line-Scan Sensor for Industrial Inspection Applications

Olaf Schrey (Vortragende:r), Christian Nitta, Benjamin Bechen, Ernst Bodenstorfer, Jörg Brodersen, Konrad Mayer, Werner Brockherde

Publikation: Beitrag in Buch oder TagungsbandVortrag mit Beitrag in TagungsbandBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
TitelProceedings of SPIE Optical Metrology 2015
Herausgeber (Verlag)SPIE
Seitenumfang15
ISBN (Print)978-1-6284-1691-6
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungSPIE Optical Metrology Conference -
Dauer: 22 Juni 201525 Juni 2015

Konferenz

KonferenzSPIE Optical Metrology Conference
Zeitraum22/06/1525/06/15

Research Field

  • Ehemaliges Research Field - Digital Safety and Security

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