| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 2727-2732 |
| Seitenumfang | 6 |
| Fachzeitschrift | J. Appl. Phys.(15 Apr 1985) |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1985 |
Research Field
- Nicht definiert
Schlagwörter
- FZS-000PHP
Use of electron beam techniques to study ion deposition in secondary ion mass spectrometry sputter craters
J.D. Brown, Friedrich Rüdenauer
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