Analyse von Simulationen und Nahfeldmessergebnissen an ICs und PCBs zur Störfeldstärkenabschätzung

Michael Vlasich

Research output: ThesisMaster's Thesis

Original languageGerman
Awarding Institution
  • University of Applied Sciences Technikum Wien
Supervisors/Advisors
  • Lamedschwandner, Kurt, Supervisor
Publication statusPublished - 2007

Research Field

  • Biosensor Technologies

Cite this