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Analyse von Simulationen und Nahfeldmessergebnissen an ICs und PCBs zur Störfeldstärkenabschätzung

  • Michael Vlasich

Research output: Thesis › Master's Thesis

Original languageGerman
Awarding Institution
  • University of Applied Sciences Technikum Wien
Supervisors/Advisors
  • Lamedschwandner, Kurt, Supervisor
Publication statusPublished - 2007

Research Field

  • Biosensor Technologies

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