Frequenzselektive Analyse des Isotropieverhaltens und der Messunsicherheit für das Feldstärke Messverfahren ADD3D

Harald Haider, Alexander Kriz, Wolfgang Muellner

Research output: Chapter in Book or Conference Proceedings › Conference Proceedings with Oral Presentation › peer-review

Original language	German
Title of host publication	Elektromagnetische Verträglichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse
Pages	305-312
Number of pages	8
Publication status	Published - 2002
Event	Elektromagnetische Verträglichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse - Duration: 1 Jan 2002 → …

Conference	Elektromagnetische Verträglichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse
Period	1/01/02 → …

Research Field

@inproceedings{196be7be81914cfeac65db91dcef2864,

title = "Frequenzselektive Analyse des Isotropieverhaltens und der Messunsicherheit f{\"u}r das Feldst{\"a}rke Messverfahren ADD3D",

author = "Harald Haider and Alexander Kriz and Wolfgang Muellner",

year = "2002",

language = "Deutsch",

pages = "305--312",

booktitle = "Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse",

note = "Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse ; Conference date: 01-01-2002",

}

Frequenzselektive Analyse des Isotropieverhaltens und der Messunsicherheit für das Feldstärke Messverfahren ADD3D. / Haider, Harald; Kriz, Alexander; Muellner, Wolfgang.
Elektromagnetische Verträglichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse. 2002. p. 305-312.

Research output: Chapter in Book or Conference Proceedings › Conference Proceedings with Oral Presentation › peer-review

TY - GEN

T1 - Frequenzselektive Analyse des Isotropieverhaltens und der Messunsicherheit für das Feldstärke Messverfahren ADD3D

AU - Haider, Harald

AU - Kriz, Alexander

AU - Muellner, Wolfgang

PY - 2002

Y1 - 2002

M3 - Vortrag mit Beitrag in Tagungsband

SP - 305

EP - 312

BT - Elektromagnetische Verträglichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse

T2 - Elektromagnetische Verträglichkeit;EMV 2002, 10. Internationale Fachmesse

Y2 - 1 January 2002

ER -